Application: 複雑形状の3次元外観・寸法検査
XTIAの光コム技術を用いた3次元計測は、同軸光学系での計測であるため、物体全面で遮られることのない完全な3次元プロファイルを、高い精度で得ることができます。 XTIAの光コムセンサ L90(広範囲モデル)とS40(高精細モデル)では、最速で毎秒500,000 データポイントを取得することができ、この高速性により接触式と比較して部品をスキャンする時間は大幅に短縮されます。
その結果、鋳造品、鍛造品、機械加工品などの凹凸のある複雑な構造物の全自動形状検査に最適なソリューションとなっています。…