XTIA光コム３ＤセンサをJUKI画像検査装置に搭載した「ハイブリッド検査装置」
4月7日～9日開催の名古屋機械要素技術展（JUKIブース）にて展示いたします。
実機ご覧いただける機会です。お気軽にお立ち寄りください。
ハイブリッド外観検査装置 JUKI with XTIA
＜出展概要＞
開催日時 ：2021年4月7日(水) ～ 9日(金)
展示会名 ：第六回名古屋機械要素技術展
会場 ：ポートメッセ名古屋
詳細 ：https://www.japan-mfg-nagoya.jp/ja-jp/about/mtech.html