XTIA logo
  • ホーム
  • 製品
    • 光コムとは
    • 光コム技術
    • ハードウェア
    • ソフトウェア
    • ソリューション
    • ギャラリー
  • お問い合わせ
  • 会社情報
    • 会社概要
    • ニュース
    • 最新情報
    • チーム
    • 採用情報
  • リソースセンター
    • カタログ
    • 動画
  • お客様情報について
  • LANGUAGE
    • JP
    • EN
  • カタログ ダウンロード
  • HOME
  • PRODUCT
    • Optocomb
    • Technology
    • Hardware
    • Software
    • Applications
  • COMPANY
    • About us
    • Achievements
    • Team
    • Career
  • CONTACT
  • MORE
    • News
    • Gallery
    • Videos
    • Downloads
  • LANGUAGE(EN)
  • カタログダウンロード

本ウェブサイトでは、サイトの利便性向上のためクッキー(Cookie)を使用しています。クッキーの使用をご承認いただきますようお願いします。 詳細はこちら

  • Home
  • News
  • 機関紙「非破壊検査」へ寄稿しました。

機関紙「非破壊検査」へ寄稿しました。

2020.07.8 News

機関紙「非破壊検査」2020年7月号に、
ノーベル賞技術”光コム”による三次元外観検査事例 
と題して、XTIAの取り組みを寄稿させていただきました。
ぜひ、ご一読ください。

非破壊検査2020年7月目次へ

日経ビジネス「フロントランナー」に掲載…前の記事
【プレスリリース】本社・デモルームを移…次の記事
MENU
  • HOME
  • PRODUCT
    • Optocomb
    • Technology
    • Hardware
    • Software
    • Applications
  • COMPANY
    • About us
    • Achievements
    • Team
    • Career
  • CONTACT
  • MORE
    • News
    • Gallery
    • Videos
    • Downloads
    • LANGUAGE(EN)
    • カタログダウンロード